څنګه کولای شو چی د لوړ فریکونسۍ ترانسفارمر کور معلوم کړي؟

څنګه د لوړ فریکونسۍ ټرانسفارمر کور کشف کړئ؟ هغه خلک چې د لوړ فریکونسۍ ټرانسفارمر کور اخلي د ټیټ درجې موادو څخه جوړ شوي کور پیرودلو څخه ویره لري. نو څنګه باید کور کشف شي؟ دا د a د اصلي لپاره د کشف ځینې میتودونو پوهیدو ته اړتیا لريد لوړ فریکونسۍ ټرانسفارمر.

که تاسو غواړئ د لوړ فریکونسۍ ټرانسفارمر اصلي برخه معلومه کړئ، تاسو باید پوه شئ چې کوم مواد معمولا د کور لپاره کارول کیږي. که تاسو علاقه لرئ، تاسو کولی شئ دا وګورئ. ډیری مختلف ډولونه شتون لرينرم مقناطیسيهغه مواد چې د مقناطیسي ملکیتونو اندازه کولو لپاره کارول کیږي. ځکه چې دوی په بیلابیلو لارو کارول کیږي، ډیری پیچلي پیرامیټونه شتون لري چې اندازه کولو ته اړتیا لري. د هر پیرامیټر لپاره ډیری مختلف اندازې او میتودونه شتون لري، کوم چې د مقناطیسي ملکیتونو اندازه کولو ترټولو مهمه برخه ده.

 

د DC مقناطیسي ملکیتونو اندازه کول

مختلف نرم مقناطیسي توکي د موادو پورې اړه لري مختلف ازموینې اړتیاوې لري. د بریښنایی خالص اوسپنې او سیلیکون فولادو لپاره ، اندازه شوي اصلي شیان د معیاري مقناطیسي ساحې ځواک (لکه B5, B10, B20, B50, B100) لاندې د طول مقناطیسي انډکشن شدت Bm او همدارنګه اعظمي مقناطیسي پارومیت μm او جبري ځواک Hc دي. د Permalloy او amorphous میچ لپاره، دوی د ابتدايي مقناطیسي پارمیا وړتیا μi اندازه کوي، اعظمي مقناطیسي پارمیا وړتیا μm، Bs او Br؛ پداسې حال کې چېنرم فیرایټهغه مواد چې دوی μi، μm، Bs او Br او داسې نور هم اندازه کوي. په ښکاره ډول که موږ هڅه وکړو چې دا پیرامیټونه د تړل شوي سرکیټ شرایطو لاندې اندازه کړو نو موږ کولی شو کنټرول کړو چې موږ دا مواد څومره ښه کاروو (ځینې مواد د خلاص سرکټ میتود لخوا ازمول کیږي). تر ټولو عام میتودونه عبارت دي له:

 

(الف) د اغیزې طریقه:

د سیلیکون فولادو لپاره، د ایپسټین مربع حلقې کارول کیږي، خالص اوسپنې راډونه، ضعیف مقناطیسي مواد او امورفوس پټې د سولینایډونو لخوا ازمول کیدی شي، او نور نمونې چې په بند سرکټ مقناطیسي حلقو کې پروسس کیدی شي ازموینه کیدی شي. د ازموینې نمونې اړین دي چې په کلکه یو غیر جانبدار حالت ته ډیمګنیټیز شي. یو بدل شوی DC بریښنا رسولو او د تاثیر ګالوانومیټر د هرې ازموینې نقطې ثبتولو لپاره کارول کیږي. په همغږي کاغذ کې د Bi او Hi په محاسبه کولو او رسم کولو سره، اړونده مقناطیسي ملکیت پیرامیټونه ترلاسه کیږي. دا د 1990 لسیزې دمخه په پراخه کچه کارول کیده. تولید شوي وسایل عبارت دي له: CC1، CC2 او CC4. دا ډول وسیله د کلاسیک ازموینې میتود، باثباته او د باور وړ ازموینه، نسبتا ارزانه وسیله قیمت، او اسانه ساتنه لري. نیمګړتیاوې یې دا دي: د ازموینو اړتیاوې خورا لوړې دي، د ټکي په واسطه د ازموینې کار خورا سخت دی، سرعت ورو دی، او د نبض غیر فوري وخت تېروتنه له منځه وړل ستونزمن دي.

 

(ب) د جبر میټر طریقه:

دا د اندازه کولو میتود دی چې په ځانګړي ډول د خالص اوسپنې راډونو لپاره ډیزاین شوی ، کوم چې یوازې د موادو Hcj پیرامیټر اندازه کوي. د ازموینې ښار لومړی نمونه ډکوي او بیا مقناطیسي ساحه بیرته راګرځوي. د یو ځانګړي مقناطیسي ساحې لاندې، د کاسټ کویل یا نمونه د سولینایډ څخه لیرې کیږي. که چیرې په دې وخت کې د بهرنی اغیز ګالوانومیټر هیڅ انعطاف ونه لري، اړونده ریورس مقناطیسي ساحه د نمونې Hcj دی. د اندازه کولو دا طریقه کولی شي د موادو Hcj خورا ښه اندازه کړي، د کوچنیو تجهیزاتو پانګونې سره، عملي، او د موادو شکل لپاره هیڅ اړتیا نشته.

 

(C) د DC hysteresis لوپ وسیله طریقه:

د ازموینې اصول د دایمي مقناطیسي موادو د هیسټریسیس لوپ د اندازه کولو اصول سره ورته دي. په اصل کې، په ادغام کې لا زیاتو هڅو ته اړتیا ده، کوم چې کولی شي مختلف ډولونه غوره کړي لکه د فوتو الیکټریک امپلیفیکیشن متقابل انډکټر ادغام، د مقاومت - ظرفیت ادغام، د Vf تبادلې ادغام او د بریښنایی نمونې ادغام. کورني تجهیزات شامل دي: CL1، CL6-1، CL13 د شانګهای سیبیاو فابریکې څخه؛ په بهرنیو تجهیزاتو کې یوکوګاوا 3257، LDJ AMH401، او نور شامل دي. په نسبي توګه، د بهرنیو ادغامونو کچه د کورنیو په پرتله خورا لوړه ده، او د B- سرعت فیډبیک کنټرول دقت هم خورا لوړ دی. دا میتود د ګړندي ازموینې سرعت لري ، رواني پایلې لري او کارول یې اسانه دي. نیمګړتیا یې دا ده چې د μi او μm ازموینې ډاټا ناسم دي، په عمومي توګه د 20٪ څخه ډیر دي.

 

(د) د سمولو اغیزې طریقه:

دا اوس مهال د نرم مقناطیسي DC ځانګړتیاو ازموینې لپاره غوره ازموینې میتود دی. دا په اصل کې د مصنوعي اغیزې میتود د کمپیوټر سمولو میتود دی. دا طریقه په 1990 کې د چین د میټرولوژي اکاډمۍ او لودي الکترونیکي انسټیټیوټ لخوا په ګډه جوړه شوې. محصولات عبارت دي له: MATS-2000 مقناطیسي موادو اندازه کولو وسیله (بنده شوې)، د NIM-2000D مقناطیسي موادو اندازه کولو وسیله (د میټرولوژي انسټیټیوټ) او TYU-2000D نرم د DC اتوماتیک اندازه کولو وسیله (Tianyu Electronics). د اندازه کولو دا میتود د اندازه کولو سرکټ ته د سرکټ د کراس مداخلې مخه نیسي ، په مؤثره توګه د ادغام صفر نقطه جریان فشاروي ، او د سکینګ ازموینې فعالیت هم لري.

 

د نرم مقناطیسي موادو د AC ځانګړتیاو اندازه کولو میتودونه

د AC هیسټریسیس لوپونو اندازه کولو میتودونو کې د اوسیلوسکوپ میتود ، فیرومګنټومیټر میتود ، د نمونې اخیستلو میتود ، د انتقالي څپې ذخیره کولو میتود او د کمپیوټر کنټرول شوي AC مقناطیسي ځانګړتیاو ازموینې میتود شامل دي. اوس مهال، په چین کې د AC هیسټریسیس لوپونو اندازه کولو میتودونه په عمده ډول دي: د اوسیلوسکوپ میتود او د کمپیوټر کنټرول شوي AC مقناطیسي ځانګړتیاو ازموینې میتود. هغه شرکتونه چې د اوسیلوسکوپ طریقه کاروي په عمده توګه عبارت دي له: داجي اندي، یانکین نانو او ژوهای ګیرون؛ هغه شرکتونه چې د کمپیوټر کنټرول شوي AC مقناطیسي ځانګړتیاو ازموینې میتود کاروي په عمده ډول پکې شامل دي: د چین میټرولوژی انسټیټیوټ او تیانیو الیکترونیک.

 

(الف) د اوسیلوسکوپ طریقه:

د ازموینې فریکونسۍ 20Hz-1MHz ده، عملیاتي فریکونسۍ پراخه ده، تجهیزات ساده دي او عملیات اسانه دي. په هرصورت، د ازموینې دقت ټیټ دی. د ازموینې طریقه دا ده چې د ابتدايي جریان نمونه کولو لپاره د غیر انډکټیو مقاومت څخه کار واخلئ او دا د اوسیلوسکوپ X چینل سره وصل کړئ، او Y چینل د RC ادغام یا ملر ادغام وروسته د ثانوي ولتاژ سیګنال سره وصل دی. د BH وکر په مستقیم ډول د اوسیلوسکوپ څخه لیدل کیدی شي. دا طریقه د ورته موادو د پرتله کولو اندازه کولو لپاره مناسبه ده، او د ازموینې سرعت ګړندی دی، مګر دا نشي کولی د موادو مقناطیسي ځانګړتیاو پیرامیټونو په سمه توګه اندازه کړي. برسېره پر دې، له دې امله چې انټیګرل ثابت او د سنتریشن مقناطیسي انډکشن د تړل شوي لوپ کنټرول نه دی، د BH منحنی پیرامیټونه نشي کولی د موادو ریښتینې ډاټا استازیتوب وکړي او د پرتله کولو لپاره کارول کیدی شي.

 

(ب) د فیرومقناطیسی وسیله طریقه:

د فیرو مقناطیسي وسیلې میتود ته د ویکٹر میټر میتود هم ویل کیږي ، لکه د کورني CL2 ډول اندازه کولو وسیله. د اندازه کولو فریکونسۍ 45Hz-1000Hz ده. تجهیزات یو ساده جوړښت لري او د چلولو لپاره نسبتا اسانه دی، مګر دا یوازې د عادي ازموینې منحل ثبت کولی شي. د ډیزاین اصول د ولټاژ یا اوسني سمدستي ارزښت اندازه کولو لپاره د مرحلې حساس اصلاح کاروي ، او همدارنګه د دوه مرحله ، او د موادو د BH منحني انځورولو لپاره ریکارډر کاروي. Bt=U2au/4f*N2*S, Ht=Umax/l*f*M، چیرته چې M متقابل انډکشن دی.

 

(ج) د نمونې اخیستلو طریقه:

د نمونې اخیستلو طریقه د نمونې تبادلې سرکټ کاروي ترڅو د لوړ سرعت بدلیدونکي ولتاژ سیګنال په ورته څپې سره ولتاژ سیګنال بدل کړي مګر خورا ورو بدلیدونکي سرعت سره ، او د نمونې اخیستو لپاره د ټیټ سرعت AD کاروي. د ازموینې ډاټا دقیقه ده، مګر د ازموینې فریکونسۍ تر 20kHz پورې ده، کوم چې د مقناطیسي موادو د لوړې فریکونسۍ اندازه کولو سره تطابق ستونزمن دی.

 

(D) د AC مقناطیس کولو ځانګړتیاو ازموینې میتود:

دا میتود د اندازه کولو میتود دی چې د کمپیوټرونو د کنټرول او سافټویر پروسس کولو وړتیاو بشپړ کارولو سره ډیزاین شوی ، او د راتلونکي محصول پراختیا لپاره حیاتي لارښود هم دی. ډیزاین د تړل شوي لوپ کنټرول لپاره کمپیوټرونه او د نمونې کولو لوپونه کاروي، ترڅو ټول اندازه کول په خپله خوښه ترسره شي. یوځل چې د اندازه کولو شرایط داخل شي ، د اندازه کولو پروسه په اوتومات ډول بشپړیږي او کنټرول اتومات کیدی شي. د اندازه کولو فعالیت هم خورا پیاوړی دی، او دا تقریبا د نرم مقناطیسي موادو د ټولو پیرامیټونو دقیق اندازه کولی شي.

 

 

مقاله له انټرنیټ څخه لیږدول شوې. د لیږلو هدف دا دی چې هرڅوک وکولی شي ښه اړیکه ونیسي او زده کړي.